Перший у світі компактний універсальний скануючий ядерний мікрозонд з очікуваною субмікронною роздільною здатністю збудовано на базі 3 МВ прискорювача типу Ван де Грааффа, в Інституті ядерної фізики (ІЯФ) м.Краків, Польща. Розділений "російський" квадруплет магнітних квадрупольних лінз входить до складу оптимізованої фокусуючої системи мікрозонда. У роботі висвітлено очікувані можливості та деякі особливості конструкції мікрозонда. ІЯФ та Інститут прикладної фізики (м.Суми, Україна) планують проводити спільні дослідження на базі цього приладу.

Представлено першу версію системи накопичення та обробки експериментальних данних для Краківського ядерного мікрозонда. В системі сканування пучка іонів використано ефект відхилення пучка іонів в магнітному полі. Збирання інформації від детекторів здійснюється за допомогою NIM/CAMAC модулів під контролем операційної системи Windows і керуючої GPIB карти, встановлених на персональному компьютері. Повні спектри від кожного детектора збираються в процесі вимірювань (в режимі on-line), в той час як повна інформація про детектовану енергію та положення пучка іонів записується у вигляді дискового файла, що дозволяє здійснювати послідуючий аналіз даних (в режимі off-line). Описано електронні прилади та програмне забезпечення системи. Наведено приклади спектрів зворотнього розсіювання протонів і характеристичного рентгенівського випромінення від зразка метеорита.

Зазначено, що новий скануючий ядерний мікрозонд з короткою зондо-формувальою системою спроектовано і встановлено на основі 3МВ прискорювача іонів (типу Ван де Грааффа) в Кракові. Розділений "руський" квадруплет магнітних квадрупольних лінз входить до складу оптимізованої зондо-формувальної системи. Застосовано нову систему сканування пучка іонів, в якій використовуються електро-магнітні котушки з феритовим осердям. Показано попередні експериментальні результати та деякі особливості мікрозонда. Реалізований проект започатковує розвиток нового покоління компактних і вертикальних ядерних мікрозондів.

За допомогою ядерних аналітичних методів резерфордівського зворотного розсіяння та індукованого частинками характеристичного рентгенівського випромінювання досліджено поверхневі наношари структури золото - кремній. Від параметрів цих шарів кардинально залежать електротехнічні властивості побудованих на їх основі електронних приладів. Вимірювання виконано на прецизійній мікроаналітичній установці "Скануючий ядерний зонд" щойно введеній в експлуатацію в лабораторії "Спектр". Експеримент показав, що товщина шару золота, напиленого на поверхню зразків, дорівнює ~ 17 нм (для одного зразка) і ~ 20 нм (для другого зразка). Неоднорідність товщини цих шарів по поверхні не перевищує 1,6 нм і не виходить за межі похибки експерименту. Під золотом, у проміжному шарі золото - кремній, виявлено значну кількість домішки. Ймовірно, що це залишок фтору після технологічної операції травлення поверхні кремнію в суміші кислот, куди входить і плавикова кислота. Показано, що кількість виявленого фтору для серії вимірів сильно корелює з величиною струму альфа-частинок на мішені під час набору спектра. Очевидно, що локальний нагрів мішені залежить від величини струму. Звідси випливає різна швидкість локальної дифузії атомів фтору з поверхні мішені.